偏折术实际上属于广义上的面结构光。其主要原理如图1, 即通过计算机编程产生正弦条纹，将该正弦条纹通过投影设备投影至被测物，利用相机拍摄条纹受物体调制的弯曲程度，解调该弯曲条纹得到相位，再将相位转化为全场的高度。当然其中至关重要的一点就是系统的标定，包括系统几何参数的标定和相机以及投影设备的内部参数标定，否则很可能产生误差或者误差耦合。因为系统外部参数不标定则不可能由相位计算出正确的高度信息。偏折术主要用于测量镜面物体。一直以来，干涉法都是测量镜面最佳方法，精度可以达到波长的几百分之一，但是有一些局限性：1. 测量自由面型的镜面物体时，干涉法所需要的光学补偿原件制作复杂且昂贵；3. 测量环境苛刻，不适合干涉法测量，因为轻微抖动、温度变化，会给测量带来很大误差；对于上面的问题，一般使用相位偏折术（PMD）来解决上述问题，相位偏折术对环境不敏感，没有回程误差，因而标定相对简单，可以测量自由曲面。其实偏折术系统跟结构光系统是非常相似的，它的重建流程如下：额外说明的是，偏折术系统中常说的“精度”达到几纳米，不是传统意义上的“精度”，这是因为偏折术通常用来测量纯镜面反射的物体表面，比如说天文望远镜的镜面，它的模型假设中也假设参考平面跟待测镜面在同一高度，所以精度甚至可以达到几纳米。
1.产生正弦条纹图，因为后续要利用变形条纹图获取相位，而获取相位的算法也有多种，这里采用的是四步移相法。因此这里产生四幅相位差pi/2的条纹。然后将该四幅条纹分时投影到被测物上，采集调制条纹图，同时要采集参考面的条纹。
由采集到的受调制条纹图计算出被调制相位，这里得到的相位图是截断相位图，因为移相算法得到的结果是由反正切函数计算所得，因而被限制在[-pi,pi]之间，也就是说每当其值超过该范围，又会重新开始。解决上述问题需要消除跳变，即将截断相位恢复为连续相位。3.上述二者相减得到相位差，该相位差则表征了被测物相对参考面的高度信息，再代入相位与高度转化公式（其中相应参数经过标定），得到如下三维模型。
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