SoC硬漏洞
来源：EETOP编译整理自semiwiki
Gajinder Panesar 和 Tim Ramsdale 分别是来自 Siemens EDA 和 Agile Analog 的两位专家，他们联手撰写了一份 15 页的白皮书，“ SoC 漏洞和模拟威胁的演进格局” 。接下来我们分享一些从阅读本文中学到的要点。(关注EETOP公众号，后台输入关键词：漏洞 ，获取白皮书）
漏洞
一个安全前提是仅依靠软件更新来修补漏洞是不够的，因此应考虑将安全性作为硬件设计的一部分。甚至还有一个名为OpenTitan的开源项目，可帮助您为硅信任根(RoT) 芯片构建透明、高质量的参考设计和集成指南。使用基于硬件的 RoT，只能运行与已知签名进行比较的固件，从而阻止加载任何被黑固件的尝试。
黑客们变得越来越有创造力和足智多能，通过硬件测量来检查RSA算法中的密钥，，并注意到操作执行方式的微小变化，也就是侧通道攻击。下面显示的是紫色箭头的四个乘法部分，那么负尖峰是算法中的平方和模块化还原的一部分。
侧道攻击
可以通过检查以下几件事来揭示安全线索：
缓存活动
执行管道
电磁 (EM)值
电压变化
电流变化
侧道攻击的另一个例子是黑客试图猜测其中一个关键字节，并且在下图的350 附近他们找到了一个正确的关键字节。
攻击输出与子密钥猜测的样本数
正如德国安全公司LevelDown所记录的那样，黑客使用的另一种技术是在特定时间点故意干扰电源，然后将存储的位翻转到不安全状态。甚至一些较旧的处理器也存在黑客使用非法操作码的漏洞，从而使处理器处于易受攻击的状态。
温度是另一种技术，攻击者可以在高于或低于指定温度的温度下运行 SoC，以改变内部状态，甚至从物理不可克隆功能 (PUF) 中提取私钥。
攻击者可能利用电源轨的电压变化，以减慢或加快逻辑，导致内部比特翻转，并达到非法状态。
如果黑客可以物理访问您的电子系统，他们通过改变占空比或引入毛刺直接控制时钟输入将改变内部逻辑。ChipWhisperer是一家拥有开源系统的公司，使用侧信道功率分析和故障注入来暴露嵌入式系统的弱点。
使用电磁（EM）辐射进行故障注入是ChipShouter公司使用的一种技术，但它们必须与内部时钟边缘精确定时，以创造一个可重复的故障。即使是在去掉盖子的IC封装上使用激光，也能迫使一个SoC出现内部错误。
漏洞对策
时钟毛刺：内部生成的比较源。
电源毛刺：断电检测器
温度攻击：温度传感器
在白皮书中，他们提供了一种名为Tessent Embedded Analytics的产品，它将硬件监视器嵌入到您的 SoC 中，然后与基于消息的架构进行通信。添加来自Agile Analog 的硬件安全 IP 可以检查时钟、电压和温度：
来自 Agile Analog 的监视器
这些监视器可以感知漏洞利用，然后嵌入式分析可以报告并决定适当的安全响应。嵌入式分析和安全 IP 的组合如图所示：
嵌入式分析和安全 IP
总结
SoC 设计的强大功能和优势正受到黑客的攻击，因此设计社区有责任采取主动措施来加强其新产品的安全级别。西门子 EDA 和 Agile Analog 创建了一个嵌入式数字和模拟硬件框架，用于检测网络威胁，并实时采取适当行动。