超声波显微镜sat在失效分析中的优势

​超声波显微镜sat在失效分析中的优势：

非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构

可分层扫描、多层扫描

实施、直观的图像及分析

缺陷的测量及缺陷面积和数量统计

可显示材料内部的三维图像

对人体是没有伤害的

可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）vx：ictest1 ​​​#半导体# #芯片# #工程师#

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