【影像学习44】——脑皮质层状坏死的影像诊断

图释

图1.缺血缺氧性脑病合并CLN。1 A).CT平扫，显示双侧大脑半球脑实质密度普遍降低，灰白质分界不清，脑肿胀；1B).13天后复查CT示双侧大脑半球脑皮质出现广泛脑回状高密度影，分布于脑沟两侧；1C).稍上层面CT复查示双侧大脑皮质广泛脑回状高密度影。

图2.右侧颞叶急性脑梗死恢复期。 2A).T1WI示右侧颞叶皮质内有脑回状高信号灶；2B).T2WI示右侧颞叶皮质区脑回状病变呈稍高信号；2C).DWI示右侧颞叶皮质区脑回状稍高信号，范围较T1WI稍小。

简述

脑皮质层状坏死（CLN）的神经病理学定义：一个或多个脑皮质层的局灶性或弥漫性坏死。此病变可出现在各种原因引起的严重脑缺血缺氧后，但并不常见，临床医师及影像医师常缺乏足够的认识。导致CLN出现的病因较多，包括缺氧、脑梗塞、肾上腺危象、渗透性脱髓鞘综合症、溶血性贫血、阳桃中毒、氰化物中毒、癫痫持续状态、线粒体脑肌病、婴儿颅内压增高、严重脑外伤和低血糖等。CLN发生存在两种学说：“血管学说”和“异感学说”。前者认为大脑皮质毛细血管按层状分布，其形态或功能异常会影响神经组织的供血和供氧，因而缺血缺氧可引起CLN的神经元损伤；后者认为，经动物实验及组织学证明，灰质对缺血性损伤耐受性明显不及白质，灰质结构上分６层，其中第３层最易受缺血缺氧损害，这种损害在脑沟两侧和底部的皮质重于脑回表面的皮质。目前认为这两种学说在CLN的发生中共同起作用。MRI诊断CLN较CT敏感，即T1WI层状高信号改变。T1WI上高信号可以是正铁血红蛋白或出血、顺磁性物质、高含量蛋白质、脂肪组织、胆固醇、钙化以及CLN等。CLN的出现常提示预后不良，及时准确的诊断对患者的治疗和预后有重要意义。CT和MRI具有特征性的影像表现，并可以动态观察其治疗效果,在CLN的诊断和治疗中发挥着重要作用。

影像学特点

CLN在CT平扫表现为脑回状高密度，沿脑表面曲线状走行，大多分布在脑沟两侧。高密度最常见为出血和钙化，本研究发现CLN平扫CT值43～77HU，接近出血密度,认为此现象为脑缺血后再灌注时血管通透性增加导致的出血性脑梗死。MRI检查：T1WI主要表现为脑回状高信号；FLAIR像上也表现为与T1WI相似范围的高信号；T2WI受脑脊液高信号的影响，特点不明显。本组病例中与T1WI表现最为匹配的是FLAIR序列。以往认为DWI能早期发现CL病灶N，而本研究则显示，最为敏感的是T1WI序列,而DWI上病灶范围较T1WI上均有不同程度缩小、信号也减低。

（原作者：何亚奇，杨昂，等；本网摘编）