rcd吸收电路的参数设计介绍
RCD吸收电路它由电阻Rs、电容Cs和二极管VDs构成。电阻Rs也可以与二极管VDs并联连接。RCD吸收电路对过电压的抑制要好于RC吸收电路,与RC电路相比Vce升高的幅度更小。由于可以取大阻值的吸收电阻,在一定程度上降低了损耗。
rcd吸收电路原理
若开关断开,蓄积在寄生电感中能量通过开关的寄生电容充电,开关电压上升。其电压上升到吸收电容的电压时,吸收二极管导通,开关电压被吸收二极管所嵌位,约为1V左右。寄生电感中蓄积的能量也对吸收电容充电。开关接通期间,吸收电容通过电阻放电。
rcd吸收电路的参数设计
一﹑首先对mos管的VD进行分段:
Ⅰ,输入的直流电压VDC;
Ⅱ,次级反射初级的VOR;
Ⅲ,主MOS管VD余量VDS;
Ⅳ,RCD吸收有效电压VRCD1。
二﹑对于以上主MOS管VD的几部分进行计算:
Ⅰ,输入的直流电压VDC。在计算VDC时,是依最高输入电压值为准。如宽电压应选择AC265V,即DC375V。VDC=VAC *√2
Ⅱ,次级反射初级的VOR。VOR是依在次级输出最高电压,整流二极管压降最大时计算的,如输出电压为:5.0V±5%(依Vo =5.25V计算),二极管VF为0.525V(此值是在1N5822的资料中查找额定电流下VF值).VOR=(VF +Vo)*Np/Ns
Ⅲ,主MOS管VD的余量VDS.VDS是依MOS管VD的10%为最小值.如KA05H0165R的VD=650应选择DC65V.VDS=VD* 10%
Ⅳ,RCD吸收VRCD.MOS管的VD减去Ⅰ,Ⅲ三项就剩下VRCD的最大值。实际选取的VRCD应为最大值的90%(这里主要是考虑到开关电源各个元件的分散性,温度漂移和时间飘移等因素得影响)。
VRCD=(VD-VDC -VDS)*90%
注意:
① VRCD是计算出理论值,再通过实验进行调整,使得实际值与理论值相吻合.
② VRCD必须大于VOR的1.3倍.(如果小于1.3倍,则主MOS管的VD值选择就太低了)
③ MOS管VD应当小于VDC的2倍.(如果大于2倍,则主MOS管的VD值就过大了)
④ 如果VRCD的实测值小于VOR的1.2倍,那么RCD吸收回路就影响电源效率。
⑤ VRCD是由VRCD1和VOR组成的Ⅴ,RC时间常数τ确定.τ是依开关电源工作频率而定的,一般选择10~20个开关电源周期。
三﹑试验调整VRCD值
首先假设一个RC参数,R=100K/RJ15, C=“10nF/1KV”。再上市电,应遵循先低压后高压,再由轻载到重载的原则。在试验时应当严密注视RC元件上的电压值,务必使VRCD小于计算值。 如发现到达计算值,就应当立即断电,待将R值减小后,重复以上试验。(RC元件上的电压值是用示波器观察的,示波器的地接到输入电解电容“+”极的RC一 点上,测试点接到RC另一点上)
一个合适的RC值应当在最高输入电压,最重的电源负载下,VRCD的试验值等于理论计算值。
波形对比
未加RCD吸收电路满载波形
加完RCD满载的波形
未加RCD吸收电路空载波形
加完RCD空载波形