【CT课件】GSI能谱CT成像的基本原理以及可视化分析工具
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CT能谱成像的物理基础
一、X线的基础
1、X线强度（质和量）：取决于管电压和管电流复合因素。
①质：穿透物质的能力，只与光子能量有关而与个数无关；（管电压KV来表示）②量：管电流与照射时间的乘积来表示；（管电压mAs来表示）
意义：X线强度越大，说明管电流大，穿透物质的能力强。
CT能谱成像的物理基础
一、X线的基础
2、X线的能量谱：X线本质是电磁波，与微波、可见光和紫外线是一样的。
①特征谱：可用量子论理做完美解释。
即当X线管产生的高能束流电子轰击靶极时，
靶极原子的内层电子脱离原轨道，
外层电子填充空位时产生辐射跃迁，
辐射光子的能量取决于跃迁前后的能级差。
②连续谱：源于轫致辐射。
即高能电子进入靶原子核附近，
受原子核电场作用急剧减速，
损失的能量以X光子的形式辐射出去，
因高速电子与原子核电场的相互作用的情况不同，
因而辐射出的X光子具有各种各样的能量，
从而形成连续谱。
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